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在(zai)充(chong)電接(jie)口(kou)（如Type-C、USB-A）的可(ke)靠性檢(jian)測中，插(cha)拔壽命(ming)是(shi)核心指(zhi)標(biao)之壹，需(xu)模(mo)擬(ni)萬(wan)次(ci)以(yi)上插(cha)拔場景(jing)驗(yan)證耐(nai)用(yong)性(xing)。傳(chuan)統(tong)人(ren)工測試易受(shou)操(cao)作(zuo)習慣(guan)、體(ti)力(li)狀(zhuang)態(tai)等因素(su)影(ying)響，誤(wu)差率(lv)常(chang)達(da)8%-15%，而充電(dian)接(jie)口(kou)插(cha)拔壽命(ming)試驗(yan)系統(tong)通(tong)過自(zi)動(dong)化與(yu)標準化設計，能(neng)大幅(fu)降低誤(wu)差，保(bao)障測試數據精(jing)準性。
壹、破解(jie)人(ren)工測試的誤(wu)差痛點
人(ren)工(gong)測試存(cun)在(zai)三(san)大核心誤(wu)差源(yuan)：其(qi)壹，插拔力度(du)不(bu)穩(wen)定。人(ren)工(gong)插拔時力度易隨測試時長增(zeng)加而衰減(jian)（如從初(chu)始(shi)50N降至35N），導(dao)致(zhi)接(jie)口(kou)磨(mo)損程度不(bu)壹致；其(qi)二，插(cha)拔角度(du)偏差(cha)。手(shou)動(dong)操作(zuo)難(nan)以(yi)保證每次(ci)插(cha)拔與(yu)接(jie)口(kou)軸(zhou)線(xian)平行，角度(du)偏差(cha)可(ke)能(neng)達(da)±5°，加速接(jie)口(kou)端(duan)子損壞，誤(wu)判壽(shou)命(ming)；其三(san)，數據記(ji)錄(lu)滯後。人工(gong)需(xu)手(shou)動(dong)計數插拔次(ci)數、記錄(lu)失(shi)效節(jie)點，易出(chu)現漏記、錯記(ji)，尤其在(zai)萬(wan)次(ci)測試中(zhong)，數據誤(wu)差率(lv)高(gao)達(da)10%以(yi)上。
二、系(xi)統(tong)如何(he)實(shi)現低誤(wu)差測試
首先(xian)，自(zi)動(dong)化執行保(bao)障(zhang)操作壹致性(xing)。系(xi)統(tong)通(tong)過伺(si)服電(dian)機精(jing)準控制插拔力度(du)（精(jing)度±0.5N）與(yu)角度(du)（偏差(cha)≤0.1°），可(ke)預設(she)國標(biao)或(huo)行業(ye)標(biao)準參數（如GB/T 26248中(zhong)Type-C接(jie)口(kou)插(cha)拔力要(yao)求(qiu)），萬次(ci)測試中(zhong)力(li)度(du)、角度(du)波動(dong)不(bu)超過2%，避(bi)免(mian)人(ren)工(gong)操(cao)作(zuo)的隨(sui)機(ji)性誤(wu)差。
其(qi)次(ci)，實(shi)時數據采(cai)集(ji)消除記錄偏差(cha)。系(xi)統(tong)配(pei)備(bei)力(li)傳(chuan)感器、位移傳感器與(yu)高清(qing)攝(she)像頭，可同步采(cai)集插(cha)拔力變(bian)化、接(jie)口(kou)位移量及外觀磨(mo)損情況(kuang)，數據采(cai)樣(yang)頻率(lv)達(da)100Hz，每(mei)次(ci)插(cha)拔數據自(zi)動(dong)存(cun)儲至數據庫，無(wu)需(xu)人(ren)工(gong)幹(gan)預，數據記(ji)錄(lu)準確率(lv)高(gao)，還(hai)能(neng)生(sheng)成(cheng)可(ke)視(shi)化曲(qu)線(xian)，直(zhi)觀(guan)呈(cheng)現接(jie)口(kou)從正(zheng)常到(dao)失(shi)效的過(guo)程。
而且，環(huan)境(jing)控制減(jian)少外(wai)部(bu)幹擾(rao)。部(bu)分(fen)系(xi)統(tong)集(ji)成恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)艙(cang)，可(ke)模擬高(gao)溫(wen)（60℃）、高(gao)濕（90%RH）等工況(kuang)，且測試過(guo)程封閉無(wu)人(ren)工接(jie)觸(chu)，避(bi)免(mian)手(shou)部(bu)汗液(ye)、灰(hui)塵等影(ying)響接(jie)口(kou)性(xing)能(neng)，進壹步降低環(huan)境(jing)因(yin)素導致(zhi)的測試誤(wu)差，使結果更貼(tie)合實(shi)際(ji)使用場景。
充(chong)電(dian)接(jie)口(kou)插(cha)拔壽命(ming)試驗(yan)系統(tong)通(tong)過技(ji)術手(shou)段(duan)替代(dai)人(ren)工(gong)操(cao)作，將(jiang)測試誤(wu)差控(kong)制在(zai)3%以(yi)內，不(bu)僅為(wei)企業(ye)提供可(ke)靠的產(chan)品(pin)質(zhi)量依(yi)據(ju)，也推(tui)動(dong)了充(chong)電(dian)接(jie)口(kou)檢(jian)測領域(yu)的標(biao)準化發(fa)展。
