高電(dian)壓起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀GB/T6553-2014/IEC60587-1984及ASTM D2303《評定(ding)在(zai)嚴酷環境條(tiao)件下(xia)使用的(de)電(dian)氣(qi)絕緣(yuan)材料(liao)耐(nai)電(dian)痕化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)的(de)試驗(yan)方(fang)法(fa)》。 高電(dian)壓起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀試驗(yan)儀由試驗(yan)部(bu)分(fen)和控制部(bu)分(fen)組成采(cai)用壹體化設(she)計(ji)，方(fang)便(bian)現場(chang)安裝和(he)調(tiao)試。試驗(yan)箱(xiang)外殼及結(jie)構(gou)件采(cai)用SUS304不銹鋼或黃銅制造；電(dian)極(ji)頭(tou)為SUS304不銹鋼，耐(nai)高溫耐(nai)腐(fu)蝕(shi)；滴(di)液(ye)計數(shu)準(zhun)確(que)，控制系(xi)統穩定(ding)可靠。

滴(di)液(ye)裝置

滴(di)液(ye)裝置時間常(chang)數(shu)可調(tiao)，使滴(di)液(ye)量(liang)和(he)滴(di)液(ye)時間間(jian)隔(ge)得到**控制；

試驗(yan)電(dian)壓電(dian)流(liu)

500～10kV(可調(tiao)) (數(shu)顯(xian))；5～60mA（分(fen)檔(dang)可設(she)），短(duan)路(lu)電(dian)流(liu)可達(da)100mA；(數(shu)顯(xian))；

電(dian)流(liu)控制阻(zu)抗(kang)

60、50、30、15KΩ或根據(ju)實(shi)際要求(qiu)設(she)置，通過(guo)切(qie)換分(fen)別實(shi)現次(ci)級(ji)試驗(yan)電(dian)流(liu)

10、22、33和(he)40mA的(de)要求(qiu)

次(ci)級(ji)限(xian)流(liu)電(dian)阻

15KΩ或根據(ju)實(shi)際電(dian)路要(yao)求(qiu)設(she)置；

試驗(yan)電(dian)極(ji)

2對，分(fen)別是(shi)光(guang)滑(hua)無毛刺(ci)不銹鋼電(dian)極(ji)0.15mm厚，12.7×25.4,夾(jia)角(jiao)160°；

和(he)鎢(wu)絲(si)桿電(dian)極(ji)Φ2.4×45mm，具有(you)與軸(zhou)線(xian)成(cheng)30°夾(jia)角(jiao)的(de)頭(tou)部；

電(dian)極(ji)對試樣(yang)的(de)

作(zuo)用力分(fen)別為

50g±5g。

液(ye)滴(di)滴(di)數(shu)

1 ～ 9999( 數(shu)顯(xian)，可預(yu)置 ) ；

試驗(yan)風(feng)速

0.2m/s( 新(xin)標(biao)準(zhun) ) ；

壓降

1.0A0.1A 時（錯誤(wu)）  ；100mA（正確(que)的(de)）±8%

起(qi)痕(hen)判(pan)斷(duan)

判(pan)斷(duan)標(biao)準(zhun)A：當高壓回(hui)路(lu)中(zhong)通過(guo)試樣(yang)的(de)電(dian)流(liu)超(chao)過(guo)60mA時到達(da)終(zhong)點(dian)，

此(ci)時過電(dian)流(liu)裝置切(qie)斷電(dian)源。

判(pan)斷(duan)標(biao)準(zhun)B：當電(dian)痕達(da)到(dao)離(li)下電(dian)極(ji)25mm處(chu)的(de)試樣(yang)表(biao)面的(de)標(biao)記時達到(dao)終(zhong)點(dian)。

外形(xing)尺(chi)寸

寬(kuan) 600mm×  深 500mm× 高 1000mm ，排氣(qi)孔徑(jing) ø 100mm ；

配(pei)置

建議選(xuan)配(pei)電(dian)子測(ce)重(zhong)裝置

配(pei)件

深度規(gui)：深度規(gui)的(de)準(zhun)確(que)度(du)為±0.01mm，探(tan)針的(de)端(duan)部為半徑(jing)0.25mm的(de)半球(qiu)形(xing)。