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電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱DMS
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2024-10-17廠商性質(zhi)
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RELATED PRODUCTS詳(xiang)細介(jie)紹
電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱用途(tu)：進行鋰原電(dian)池(chi)和其(qi)它原電(dian)池(chi)、以及鋰離(li)子電(dian)池(chi)（用於移(yi)動電(dian)話、筆記本電(dian)腦、攝像(xiang)機(ji)、醫(yi)療(liao)儀器等數碼(ma)電(dian)子和(he)醫(yi)療(liao)產品）、鎳(nie)氫、鎳鎘以及鉛酸電(dian)池(chi)（用於電(dian)動工具(ju)、玩具(ju)等產品）的(de)熱濫(lan)用（高溫）或(huo)熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)
電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱技術規(gui)格(ge)要(yao)求(qiu)：
1. 適(shi)用(yong)範(fan)圍(wei)：
電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱適(shi)用(yong)於鋰離(li)子、鎳(nie)氫、鎳鎘、鉛酸、金(jin)屬(shu)氫化物(wu)鎳等多(duo)種(zhong)類型(xing)的(de)單(dan)體電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組，依(yi)據(ju)標準GB8897.4-2002（idt IEC60086-4:2000）《原電(dian)池(chi) 第(di)4部(bu)分: 鋰電(dian)池(chi)的(de)anquan要(yao)求(qiu)》、GB8897.5-2006（idt IEC60086-5:2005）《原電(dian)池(chi) 第(di)5部(bu)分：水(shui)溶(rong)液電(dian)解(jie)質(zhi)電(dian)池(chi)的(de)anquan要(yao)求(qiu)》、IEC 62133:2002《堿(jian)性或(huo)其它非酸性電(dian)解(jie)液二次(ci)單(dan)體電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組 便(bian)攜(xie)式(shi)密(mi)封(feng)二(er)次(ci)單(dan)體電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組的(de)anquan要(yao)求(qiu)》、IEC61951-1:2003《含(han)堿(jian)性或(huo)其它非酸性電(dian)解(jie)質(zhi)的(de)便(bian)攜(xie)式(shi)密(mi)封(feng)可(ke)再充電(dian)電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組 第(di)1部(bu)分:鎳(nie)鎘電(dian)池(chi)》、IEC61951-2:2003《含堿(jian)性或(huo)其它非酸性電(dian)解(jie)質(zhi)的(de)便(bian)攜(xie)式(shi)密(mi)封(feng)可(ke)再充電(dian)電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組 第(di)2部(bu)分:鎳(nie)金(jin)屬(shu)氫化物(wu)》、IEC 61960:2003《堿性或(huo)其它非酸性電(dian)解(jie)液二次(ci)單(dan)體電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組 便(bian)攜(xie)式(shi)二(er)次(ci)鋰單(dan)體電(dian)池(chi)和電(dian)池(chi)組》、UL 1642:2006《鋰蓄(xu)電(dian)池(chi)組》進行熱濫(lan)用（極高溫）和(he)熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)項目(mu)。
2. 電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱技術指(zhi)標
2.1 電(dian)池(chi)高溫隔(ge)爆(bao)試(shi)驗(yan)箱技術參(can)數
|
相(xiang)關(guan)指(zhi)標 |
技術參(can)數 |
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測(ce)試(shi)空間尺(chi)寸 |
600mm（W）X600mm（H）X600mm（D） |
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測試(shi)空間容(rong)積(ji) |
216L |
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溫度(du)範圍(wei) |
RT + 20℃～ +200℃ |
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溫度(du)波(bo)動度(du) |
±0.1℃ (+100℃時) |
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±0.2℃ (+200℃時(shi)） |
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箱內溫度(du)均勻(yun)度(du) |
±0.5℃ (+100℃時) |
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±1.5℃ (+200℃時(shi)） |
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溫度(du)上升(sheng)時間 |
周圍溫度(du)～+200℃ ＜50min |
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設定(ding)指(zhi)示分(fen)辨率 |
溫度(du)1℃，時間(jian)1min |
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指(zhi)示精(jing)度(du) |
溫度(du)±（2℃ + 1dgt） |
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控(kong)制(zhi)模式(shi) |
程(cheng)序(xu)運行、定(ding)值運轉 |
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溫度(du)變(bian)化(hua)斜(xie)率（可(ke)編程(cheng)） |
＞5℃ |
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隔(ge)爆(bao)排(pai)氣 |
發(fa)生爆(bao)炸時(shi)釋(shi)放(fang)箱內壓力的(de)anquan箱門 |
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