塑殼(ke)斷(duan)路器觸(chu)頭(tou)壓(ya)力特性自(zi)動測試(shi)系(xi)統(tong)

詳(xiang)細描(miao)述

設(she)備概述：

觸(chu)頭(tou)彈(dan)跳分為(wei)觸(chu)頭(tou)合(he)閘彈跳和分(fen)閘彈跳，其中(zhong)*重要是觸(chu)頭(tou)合(he)閘彈跳。塑殼(ke)式(shi)斷路器的觸(chu)頭(tou)彈(dan)跳時間(jian)和(he)觸(chu)頭(tou)同(tong)步性影響(xiang)塑殼(ke)式(shi)斷路器的電(dian)壽(shou)命和其所(suo)保(bao)護(hu)設(she)備的anquan，是表征塑殼(ke)式(shi)斷路器觸(chu)頭(tou)系(xi)統(tong)性能優(you)劣(lie)的2個(ge)重要技(ji)術(shu)參(can)數，因此(ci)，各(ge)個(ge)塑殼(ke)式(shi)斷路器生(sheng)產廠家(jia)都根據自(zi)身產品的性(xing)能差(cha)異(yi)，規定(ding)了(le)觸(chu)頭(tou)彈(dan)跳時間(jian)和(he)觸(chu)頭(tou)同(tong)步性的要求(qiu)，並在過程(cheng)檢查和(he)出廠(chang)檢(jian)查中(zhong)加(jia)以(yi)控(kong)制，以保(bao)證產品質(zhi)量。
1.測(ce)試(shi)設(she)備

本自(zi)動測試(shi)臺(tai)由(you)支架(jia)、自(zi)動控(kong)制系(xi)統(tong)、自(zi)動裝(zhuang)夾系(xi)統(tong)和數據采集(ji)系(xi)統(tong)4部分組(zu)成(cheng)。示波(bo)器、電(dian)阻(zu)盒、直(zhi)流電(dian)源(yuan)等組(zu)成(cheng)的數據采集(ji)系(xi)統(tong)安裝(zhuang)在測試(shi)臺(tai)支架(jia)上(shang)，其(qi)額(e)定工作(zuo)電(dian)壓(ya)為AC230V。額(e)定(ding)輸出電(dian)壓(ya)為DC15刃，額(e)定輸出電(dian)流(liu)為DC10mA。
2.測(ce)試(shi)原理(li)
 本新型(xing)觸(chu)頭(tou)彈(dan)跳及同(tong)步(bu)性測(ce)試(shi)方法基(ji)於塑(su)殼(ke)斷(duan)路器接通和(he)斷(duan)開電(dian)路的功(gong)能。
3.測試(shi)步驟

將測試(shi)設(she)備安裝(zhuang)至生(sheng)產線適當位置(zhi)，接通電(dian)源(yuan)，開啟(qi)以後，具體(ti)測(ce)試(shi)步驟如(ru)下： (1)人工或(huo)自(zi)動傳送(song)帶把測(ce)試(shi)用(yong)塑(su)殼(ke)式(shi)斷路器放(fang)入(ru)測試(shi)臺(tai)自(zi)動裝(zhuang)夾系(xi)統(tong)。
(2)測試(shi)臺(tai)自(zi)動掃描(miao)待測試(shi)塑殼(ke)式(shi)斷路器的規格(ge)，選(xuan)擇(ze)自(zi)動測試(shi)程序(xu)。
(3)測(ce)試(shi)塑殼(ke)式(shi)斷路器觸(chu)頭(tou)從(cong)0FF到(dao)0N位(wei)置(zhi)時(shi)的彈(dan)跳及同(tong)步(bu)性。
(4)測(ce)試(shi)塑殼(ke)式(shi)斷路器觸(chu)頭(tou)從(cong)0N到(dao)0FF位(wei)置(zhi)時(shi)的彈(dan)跳及同(tong)步(bu)性。
(5)保(bao)存測試(shi)數據，顯示(shi)分析(xi)結果，按合(he)格(ge)品、不合格(ge)品將(jiang)被(bei)測(ce)試(shi)的塑(su)殼(ke)式(shi)斷路器分(fen)別送(song)至相應(ying)的位(wei)置，測試(shi)結束。
4.測(ce)試(shi)結果分(fen)析(xi)
 根據測試(shi)結果可(ke)得出：塑(su)殼(ke)斷(duan)路器觸(chu)頭(tou)在合閘過程(cheng)中的彈(dan)跳時間(jian)比分閘過程(cheng)中的彈(dan)跳時間(jian)要長(chang)。因為(wei)在合閘過程(cheng)中，塑殼(ke)斷(duan)路器動(dong)觸(chu)頭(tou)與(yu)靜(jing)觸(chu)頭(tou)碰撞接觸(chu)後(hou)會(hui)形成(cheng)壹種(zhong)受(shou)迫阻(zu)尼(ni)振蕩，振蕩的頻(pin)率(lv)、振幅(fu)取決(jue)於動(dong)觸(chu)頭(tou)系(xi)統(tong)的質(zhi)量、速(su)度(du)、彈簧(huang)的倔(jue)強系(xi)數及碰撞後阻尼(ni)情況(kuang)，因此(ci)，合閘過程(cheng)中的彈(dan)跳時間(jian)要長(chang)。
5.具備(bei)三(san)大優(you)點(dian)：

（1）測試(shi)數據可靠(kao)、準(zhun)確(que)、可(ke)信(xin)度(du)高：觸(chu)頭(tou)測(ce)試(shi)過程(cheng)與觸(chu)頭(tou)實(shi)際(ji)運(yun)動(dong)過程(cheng)完(wan)全吻(wen)合(he)。

（2）測試(shi)方法更科學，更準(zhun)確：利(li)用(yong)先(xian)進的數據采集(ji)技(ji)術(shu)，完(wan)全避(bi)免(mian)了(le)人為的幹(gan)預，把數據誤差(cha)減少到(dao)*小。

（3）自(zi)動化程(cheng)度(du)高：適合現代(dai)化自(zi)動生產線使(shi)用(yong)，實(shi)現了(le)試(shi)品自(zi)動裝(zhuang)拆，自(zi)動控(kong)制檢測，自(zi)動保(bao)存試(shi)驗結果等(deng)多生(sheng)產效(xiao)率(lv)高。