接(jie)近(jin)開(kai)關操作頻(pin)率測試儀(yi)根據GB/T14048.10-2008/IEC60947-5-2:2004《低壓(ya)開(kai)關設(she)備(bei)和控制(zhi)設(she)備(bei)第5-2部(bu)分：控制(zhi)電(dian)路(lu)電(dian)器和開(kai)關元(yuan)件 接(jie)近(jin)開(kai)關》等(deng)測試試驗(yan)方法(fa)而(er)設(she)計(ji)制(zhi)造(zao)，用(yong)於(yu)電(dian)感(gan)性和電容(rong)性接(jie)近(jin)開(kai)關操作頻(pin)率的(de)檢(jian)測。接(jie)近(jin)開(kai)關操作頻(pin)率測試儀(yi)

檢(jian)測漏(lou)電(dian)斷(duan)路器(qi)剩(sheng)余(yu)電流(liu)的(de)動(dong)作特性 剩(sheng)余(yu)電流(liu)保護(hu)器測試儀(yi) 剩(sheng)余(yu)電流(liu)保護(hu)器測試儀(yi) 剩(sheng)余(yu)電流(liu)保護(hu)器測試儀(yi)

成套設(she)備(bei)綜合特性測試臺(tai)用(yong)於(yu)高(gao)低壓(ya)成套系(xi)列出廠調(tiao)試檢(jian)驗：符合GB7251.1～5等(deng)國(guo)家測試成套電(dian)氣(qi)測試標(biao)準(zhun)；符合IEC60439-1-1999、IEC439-5-96等(deng)國(guo)際測試成套電(dian)氣(qi)測試標(biao)準(zhun).成套設(she)備(bei)綜合特性測試臺(tai)

成套設(she)備(bei)綜合特性測試臺(tai)設(she)備(bei)功(gong)能：檢(jian)測高(gao)低壓(ya)配(pei)電(dian)箱(xiang)、配電屏、電(dian)氣(qi)綜合特性

低壓(ya)成套設(she)備(bei)溫(wen)升檢(jian)測系(xi)統(tong)滿足(zu)GB7251適用(yong)於(yu)低壓(ya)成套開(kai)關設(she)備(bei)和控制(zhi)設(she)備(bei)的(de)溫(wen)升試驗(yan)。應(ying)提供(gong)完(wan)整的(de)系(xi)統(tong)解決方案。具(ju)體配(pei)置(zhi)見(jian)主要(yao)設(she)備(bei)供(gong)貨(huo)表。 低壓(ya)成套設(she)備(bei)溫(wen)升檢(jian)測系(xi)統(tong)滿足(zu)GB7251試驗(yan)方法(fa)滿足(zu)GB7251.1-2013第10.10章溫升驗證(zheng)、GB7251.1-2005第8.2.1章溫升驗證(zheng)要(yao)求；

小型(xing)斷路(lu)器(qi)自動延(yan)時延(yan)時動作特性校驗(yan)臺(tai)是(shi)根據GB10963.1-2005《家(jia)用(yong)及(ji)類似場所(suo)用(yong)過(guo)電(dian)流(liu)保護(hu)斷路(lu)器》等(deng)標(biao)準(zhun)和用(yong)戶特殊要(yao)求而(er)研(yan)制(zhi)的(de)壹種專(zhuan)為小型(xing)斷路(lu)器(qi)延時動(dong)作特性校驗(yan)的(de)智(zhi)能型(xing)半(ban)自動校(xiao)驗臺(tai)。 該設(she)備(bei)采用(yong)了微(wei)處(chu)理器控制(zhi)及(ji)智(zhi)能調(tiao)節算法(fa)自動校(xiao)驗小型(xing)斷路(lu)器(qi)延時動(dong)作特性，試品(pin)校(xiao)驗後特性壹致(zhi)性高(gao)。新型(xing)自動校(xiao)驗臺(tai)不僅(jin)提高(gao)了小型(xing)斷路(lu)器(qi)的(de)質(zhi)量，同時也提高(gao)了生產效率(lv)及(ji)降(jiang)低生(sheng)產成本(ben)，是(shi)小型(xing)斷路(lu)器(qi)生產廠家(jia)對(dui)小型(xing)斷路(lu)器(qi)進行延(yan)時動作特性校驗(yan)的(de)理想(xiang)設(she)備(bei)。 主(zhu)要(yao)優(you)點(dian)：

剩(sheng)余(yu)動作電(dian)流(liu)測試臺(tai)是(shi)專(zhuan)門檢(jian)測漏(lou)電(dian)斷(duan)路器(qi)線(xian)路板(ban)的(de)剩(sheng)余(yu)動作電(dian)流(liu)特性而(er)研(yan)制(zhi)的(de)。該(gai)設(she)備(bei)其(qi)由(you)氣(qi)動夾具(ju)、中央處理器、觸摸(mo)液(ye)晶(jing)屏人(ren)機(ji)界(jie)面等(deng)部(bu)件組成，實(shi)現自動檢(jian)測漏(lou)電(dian)線(xian)路板(ban)剩(sheng)余(yu)動作電(dian)流(liu)大(da)小的(de)功(gong)能，並通(tong)過(guo)參(can)數設(she)定(ding)判(pan)斷(duan)產品是(shi)否合格(ge)。

對額(e)定(ding)電流(liu)1A-63A小型(xing)斷路(lu)器(qi)進行老化(hua)測試。 該(gai)設(she)備(bei)用(yong)於(yu)小型(xing)斷路(lu)器(qi)短路(lu)動(dong)作特性出廠檢(jian)驗.符合GB10963、GB/T14048.1等(deng)國(guo)家現(xian)有(you)小型(xing)斷路(lu)器(qi)標(biao)準(zhun)中有(you)關(guan)測試要(yao)求.符合IEC60898-95、IEC60947-1-1999等(deng)國(guo)際現(xian)有(you)小型(xing)斷路(lu)器(qi)標(biao)準(zhun)中有(you)關(guan)測試要(yao)求. 技(ji)術參數：

設(she)備(bei)功(gong)能：檢(jian)測DW45系(xi)列智(zhi)能框(kuang)架式(shi)斷(duan)路器(qi)、DW10、17、45系列綜合特性試驗(yan)，兩路(lu)交(jiao)直流(liu)電源直接(jie)控制(zhi)輸(shu)出(chu)；電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)比(bi)為(wei)30000/**、20000/**、10000/**、5000/**、1000/**。