單電(dian)池強制(zhi)內(nei)部短路試(shi)驗臺(tai) 采用(yong)西(xi)門(men)子(zi)PLC控(kong)制(zhi)步進電(dian)機(ji)運(yun)行(xing)，是(shi)對(dui)便(bian)攜式電(dian)子(zi)設(she)備(bei)用(yong)鋰離(li)子電(dian)池的單(dan)電(dian)池(即(ji)電(dian)池組(zu))安(an)全(quan)試(shi)驗方(fang)面的(de)專用設備(bei)，符合日本工(gong)業標準(zhun)的(de)JISC8714：2007 5.5條款(kuan).GB8897 UL1642的試(shi)驗要(yao)求。

溫控(kong)型電(dian)池短路試(shi)驗機(ji) 電(dian)池短路試(shi)驗箱適(shi)用(yong)於鋰原電(dian)池和其(qi)它原電(dian)池、以及(ji)鋰(li)離子電(dian)池（用於筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)、攝(she)像機(ji)等數碼電(dian)子(zi)產品）、鎳氫(qing)、鎳鎘(ge)以(yi)及(ji)鉛酸電(dian)池（用於電(dian)動(dong)工(gong)具(ju)、玩具(ju)、電(dian)動(dong)自行(xing)車等(deng)產品），按(an)照標準(zhun)GB8897.4-2002、GB/T18287-2000、IEC60086-4: 2000、IEC62133: 2002、QC/T 743-2006、UL1642: 2006、SN/T1413-2004、SN/T1414.3-2004中(zhong)的有(you)關(guan)要(yao)求，進行外(wai)部(bu)短路試(shi)驗。

電(dian)池自由(you)跌落試(shi)驗機(ji) 用途(tu)：用(yong)於鋰原電(dian)池和其(qi)它原電(dian)池、以及(ji)鋰(li)離子電(dian)池（用於筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)、攝(she)像機(ji)等數碼電(dian)子(zi)產品）、鎳氫(qing)、鎳鎘(ge)以(yi)及(ji)鉛酸電(dian)池（用於電(dian)動(dong)工(gong)具(ju)、玩具(ju)、電(dian)動(dong)自行(xing)車等(deng)產品）的(de)自由(you)跌落試(shi)驗。電(dian)池自由(you)跌落試(shi)驗機(ji)